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介質(zhì)擊穿電壓意義和用途
介電擊穿電壓是衡量絕緣液體承受電應(yīng)力的能力。液體的工頻擊穿電壓降低，如纖維素纖維，導(dǎo)電粒子，灰塵和水污染物的存在。這種測(cè)試方法中的一個(gè)低的結(jié)果表明存在一個(gè)或多個(gè)被測(cè)液體中的這些污染物濃度顯著。
這種測(cè)驗(yàn)方法測(cè)量一個(gè)高擊穿電壓，不一定說(shuō)明從中抽取采樣的液體，是一切電氣設(shè)備能承受足夠低的污染物量。測(cè)驗(yàn)辦法D 877是不敏感，這些污染物的水平低。在這種測(cè)驗(yàn)方法主要是由發(fā)生在電極邊緣擊穿。運(yùn)用磁盤之間的平行電極的電壓分布是準(zhǔn)均勻，并有很多的應(yīng)力集中在平盤面臨的尖銳邊緣?？捎糜谠u(píng)估絕緣設(shè)備，被規(guī)劃成由供應(yīng)商供給的未加工的液體。但不主張需要被放入服務(wù)之前，運(yùn)用真空濾油設(shè)備中使用的液體擊穿電壓的評(píng)價(jià)。1816e測(cè)試方法 應(yīng)當(dāng)用于確定液體過(guò)濾和脫氣的擊穿電壓。
這種測(cè)試方法是用在實(shí)驗(yàn)室或田間試驗(yàn)。對(duì)于細(xì)分領(lǐng)域的結(jié)果是化驗(yàn)結(jié)果相比，所有標(biāo)準(zhǔn)，包括室內(nèi)溫度（20至30 °）必須得到滿足。
1.范圍
1.1 本測(cè)試方法介紹，A和B兩個(gè)程序，確定電擊穿電壓的絕緣液體標(biāo)本。擊穿試驗(yàn)采用交流電壓，在電源頻率范圍從45至65赫茲。
1.2 這種測(cè)試方法用于判斷盤電極擊穿電壓要求絕緣液體從制造商提供的，從未有過(guò)的過(guò)濾或干燥。規(guī)格D 4652，3487，規(guī)格D和指南D 5222的低擊穿。專業(yè)組織如IEEE C57.106標(biāo)準(zhǔn)的建議，應(yīng)使用這種測(cè)試方法。
1.3程序的限制
1.3.1液體樣品中的污染物總?cè)丝跍p少這種測(cè)試方法的靈敏度為使用這種測(cè)試方法的應(yīng)用測(cè)試電壓大于約25 kV rms的。
1.3.2如果在室溫下的水樣本中的濃度，飽和度低于60％，水的存在，這種測(cè)試方法的靈敏度下降。如需進(jìn)一步信息，請(qǐng)參考RR：D27-1006。
1.3.3對(duì)于這種測(cè)試方法的適用性尚未確定液體的粘度高于900 CST 40C。
1.4程序的應(yīng)用
介質(zhì)擊穿電壓在一個(gè)程序可能被用于獲取硅油介質(zhì)擊穿e2225測(cè)試方法規(guī)定，提供樣品的放電能量是連續(xù)五載小于20兆焦耳（毫焦耳）每擊穿。
1.4.2程序BThis程序被用來(lái)確定液體中不溶性的細(xì)分產(chǎn)品，其中不*從磁盤之間的空間解決步驟A.程序B需要1分鐘的間隔期間的擊穿電壓，修改按照第e2225試驗(yàn)方法17，硅液體電介質(zhì)測(cè)試，如果不能達(dá)到要求是可以接受的。
程序B也應(yīng)適用于含有不溶性材料，從試樣在測(cè)試過(guò)程中解決的液體樣品的擊穿電壓的決心。其中可能包括從斷路器樣本，載分接開(kāi)關(guān)，很多不溶性微粒物質(zhì)和其他液體污染。這些例子代表樣本，重復(fù)測(cè)試之間的差異較大。運(yùn)用程序B將導(dǎo)致更的擊穿電壓值時(shí)，測(cè)試等液體。
使用過(guò)程B，以建立一個(gè)絕緣液體ASTM標(biāo)準(zhǔn)不存在，或發(fā)展為ASTM指南或標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)，擊穿電壓。一次單操作精度已被證實(shí)可用于程序A。
1.5 SI和英制單位同樣可以接受。
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